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原子力显微镜/扫描探针显微镜
日期:2013-12-02 字体大小:

厂 商 美国 CETR
型 号 AIST-NT
到货日期 2011年6月

技术指标
最大范围:0-100 µm;
扫描频率:0-10 Hz;
样品高度:0-2 µm;
测量模式:轻巧和接触;

主要用途
AIST-NT Smart SPM是一种计算机化的、高精确度的测试材料表面的微/纳科学信息设备。它具有以下优点:多种测量模式,原子力显微镜 (AFM),接触模式(大气和液体环境中),半接触模式(大气和液体环境中),真正非接触模式导电模式(Conductive AFM),高级的纳米光刻和纳米操作横向力/摩擦力显微镜(LFM),磁力显微镜(MFM)。分辨率:可持续稳定得到原子级分辨率 (以对云母原子像成像表征)。光学辅助观察系统:自动聚焦及缩放,最低0.4µm分辨率;计算机控制照明,彩色CCD摄像头。块体、有机薄膜、无机薄膜、陶瓷薄膜、等样品。主要信息为:薄膜表面形貌、磁畴、力学信息如粘着力和摩擦力等。

仪器负责人
赵文杰,联系方式:13958215063;E-mail: zhaowj@nimte.ac.cn
 

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