厂 商 美国 CETR
型 号 AIST-NT
到货日期 2011年6月
技术指标
最大范围：0-100 μm；
扫描频率：0-10 Hz；
样品高度：0-2 μm；
测量模式：轻巧和接触；
主要用途
AIST-NT Smart SPM是一种计算机化的、高精确度的测试材料表面的微/纳科学信息设备。它具有以下优点：多种测量模式，原子力显微镜 (AFM)，接触模式（大气和液体环境中），半接触模式（大气和液体环境中），真正非接触模式导电模式（Conductive AFM），高级的纳米光刻和纳米操作横向力/摩擦力显微镜（LFM），磁力显微镜（MFM）。分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率 (以对云母原子像成像表征)。光学辅助观察系统：自动聚焦及缩放，最低0.4μm分辨率；计算机控制照明，彩色CCD摄像头。块体、有机薄膜、无机薄膜、陶瓷薄膜、等样品。主要信息为：薄膜表面形貌、磁畴、力学信息如粘着力和摩擦力等。
仪器负责人
王春婷，联系方式：18968367107；E-mail: wangchunting@nimte.ac.cn