残余应力仪
发布日期:2013-12-04
 
厂 商 韩国J&L Tech.
型 号 JLCST022
到货日期 2007年10月

技术指标 
应力范围:0.01~100GPa;
分辨率:0.01GPa 扫描长度:30mm;
尺寸:400×400×400mm;
重量:20kg

主要用途 
一般来说,在基材上沉积一层薄膜会造成试样整体结构翘曲,JLCST022残余应力测试仪就是利激光束测量基材沉积后的结构翘曲,并运用Stoney’s equation来计算薄膜应力。试样应满足如下2个条件:试样弯曲程度远小于基底厚度;膜层厚度远小于基底厚度的二维试样。