表面轮廓仪(台阶仪)
发布日期:2013-12-04
 厂 商 美国辛耘科技工 程公司
型 号 Alpha-Step IQ
到货日期 2007年12月

技术指标 
测量微粗糙度,短距离情况下高达1Å(0.004微英寸)或更低分辨率
可通过扫描测量最长为10毫米(0.4英寸)的表面波纹度载荷分辨率50nN。

主要用途 
Alpha-Step IQ 轮廓仪是一种计算机化的、高灵敏度的表面轮廓仪,可测量粗糙度、波纹度和台阶高度,应用范围非常广泛。可测量各种材料,包括:磁盘、半导体晶片、精密加工和抛光面、微电子陶瓷、平面显示器玻璃、光学表面。