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表面轮廓仪（台阶仪）
日期：2013-12-04
型 号 Alpha-Step IQ
到货日期 2007年12月
技术指标
测量微粗糙度，短距离情况下高达1Å（0.004微英寸）或更低分辨率
可通过扫描测量最长为10毫米（0.4英寸）的表面波纹度载荷分辨率50nN。
主要用途
Alpha-Step IQ 轮廓仪是一种计算机化的、高灵敏度的表面轮廓仪，可测量粗糙度、波纹度和台阶高度，应用范围非常广泛。可测量各种材料，包括：磁盘、半导体晶片、精密加工和抛光面、微电子陶瓷、平面显示器玻璃、光学表面。
