厂  商：上海复享光学股份有限公司

型  号： R1-UV

投入时间：2024-11-27

放置地点：材料学院遍观楼605

设备负责人：张昕/15257494561

◆ 技术指标：

（1）光源波段：220-1700 nm，光谱波段：220-980 nm；

（2）测量模式：上反射、下反射、透射、散射、辐射、自由、编程，共7种模式；

（3）入射范围：0-180°；

（4）出射范围：0-360°；

（5）样品台：支持5维或6维调节；

（5）狭缝宽度：100 μm；

（6）积分时间：10 ms-15 min；

（7）热拉伸台参数：1）温度调节范围：室温～150 ℃；2）温控精度：0.1 ℃；3）拉力量程：0-500 N；4）拉力速度：0-40 mm/min；5）位移精度：±10 μm。

◆ 主要用途：

（1）光学薄膜：光学薄膜在不同角度具有反射率差异，因此需要系统能够准确测量薄膜在不同角度下的反射率数据，以进行全面的性能评估和优化。

（2）发光材料：空间光强分布是发光材料至关重要的指标。因此需要系统具有全方位接收发光信息的能力。

（3）结构色：在不同角度下呈现多彩的外观是结构色的基本属性，因此需要系统具备多角度光谱检测能力。

（4）光子晶体：光子晶体以其可调的能带结构实现光束偏振、方向、频率等特性的精确调控，因此需要系统具有准确表征能带结构的能力以指导优化制备工艺。